Catedra Microelectronică şi Dispozitive cu Semiconductori
Samusi, Ion Analiza structurală metode difractometrice si microscopice : manual / I. Samusi ; Univ. Tehn. a Moldovei, Fac. Calculatoare, Informatică şi Microelectronică, Cat. Microelectronică şi Dispozitive cu Semiconductori .- Ch.: Tehnica, 2006 .- 138 p.
Prefata Tabel Capitol I Capitol II Capitol III Capitol IV